X射线吸收精细结构(X-ray absorption fine structure,XAFS),也叫X射线吸收谱(X-ray absorption spectroscopy,XAS),是一种基于同步辐射光源、研究材料局域原子或电子结构的一种有力工具,广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域,主要有以下优点:
1.不依赖于长程有序结构,可用于非晶态材料的研究;
2.不受其它元素干扰,可对同一材料中不同元素分别研究;
3.不受样品状态影响,可测量固体(晶体、粉末),液体(溶液、熔融态)和气体等;
4.对样品无破坏,可进行原位测试;
5.能获得高精度的配位原子种类、配位数及原子间距等结构参数,一般认为原子间距精确度可达0.01Å。
XAFS数据解析可提供以下数据及服务:
1.XANES部分图谱,提供价态、初步结构的定性分析;
2.EXAFS拟合,提供配位原子种类、配位数和键长信息,以及简单的、从物理角度对谱的分析;
3.wavelet图谱,作为EXAFS拟合的进一步证据,同时用小波炫图提高数据分析“逼格”;
4.帮答复审稿意见中关于XAFS的问题,提供中文回答,但不包括论文写作;
5.同步辐射不参与论文致谢活动,且致谢半价活动于2020年1月1日结束,所有优惠政策不可叠加。