功能介绍
通过对材料进行X射线衍射,得到其衍射图谱,可获得材料的成分、内部原子或分子的结构或形态等信息,可用于物相鉴定,粒径表征,点阵参数、结晶度、残余应力、晶体取向及织构的测定,具有不损伤样品、无污染、快捷、高精度、可获取信息量大等优点。
制样要求
☆请尽量用样品管送粉末样,用样品袋盛装难以刮下且易损失,可能影响测试效果。
1.粉末样至少50mg(如样品密度偏大,请适量增加),粒度<200目,手搓无明显颗粒感,越细越好;
2.块体样品需表面平整,尺寸在3*3*1cm以内;
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3.块体/薄膜样品请注明测试面;
4.较薄的薄膜/涂层样品(厚度<100nm)请慎重选择广角XRD;
5.微区XRD样品需标记待测点,束斑小为0.01mm,样品高度应不超过8mm,待测面应平整光滑。