组分分析的前提是对于含有的物质种类有相对清楚的认识，常见问题，Q1、XAFS能获得什么信息？，能获得高精度的配位原子的种类、配位数以及原子间距等结构参数，Q2、XAFS，XANES，EXAFS有什么联系和区别吗？，Q3、为什么给出的R空间谱图和table中的键长不一样？，EXAFS拟合给出的是整个体系的平均结果，如体系中20%是六配位，80%是四配位，那么理论上给出的结果为（6*20%+4*80%=）4。

本期，笔者重点介绍同步辐射XAFS技术，不依赖于长程有序结构，可用于非晶态材料的研究；，不受其它元素干扰，可对同一材料中不同元素分别研究；，不受样品状态影响，可测量固体（晶体、粉末），液体（溶液、熔融态）和气体等；，作者以Bi和Bi2O3作为参考，分析了Bi2O2Se和Bi2O2Se/G复合材料中BiL3边XANES光谱（图8），同时利用吸收边特征，根据偶极子选择规则探测电子从2p3/2轨道到空6d轨道的激发。

第二代是同步辐射专用光源，典型设计为利用弯转磁铁产生同步辐射，它们都是电子储存环，通常能量较低，如美国布鲁克海文guo家实验室NSLS光源（800MeV），巴西guo家同步辐射实验室LNLS光源（1，然而XAFS测试的门槛相对较高，一方面是由于国内机时供不应求，如上海光源BL14W1线站的机时申请获批率仅有15%；另一方面，数据解析所涉及的物理知识相对深奥，需要有一定基础的专业人员才能解析出更具有可信度的结果。